Investigation of phase intergrowth morphologies in the system Zn2SiO4-SiO2 by photo-emission electron microscopy
Investigation of phase intergrowth morphologies in the system Zn2SiO4-SiO2 by photo-emission electron microscopy
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用光发射电子显微镜研究 Zn2SiO4-SiO2 体系中的相共生形貌
DOI：
10.1007/bf00823214
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发表时间：
1975
影响因子：
4.5
通讯作者：
H. Oswald
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Weber;H. Oswald
