Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects
Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects
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通过生成晶体管缺陷测试向量来解决缺陷覆盖率
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takamatsu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Higami;K.K.Saluja;H.Takahashi;S.Kobayashi;Y.Takamatsu
