Analysis of Passive Films on Austeno‐Ferritic Stainless Steel by Microscopic Ellipsometry
Analysis of Passive Films on Austeno‐Ferritic Stainless Steel by Microscopic Ellipsometry
复制标题
显微椭圆光度法分析奥氏体铁素体不锈钢上的钝化膜
DOI：
10.1149/1.2119579
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发表时间：
1983
影响因子：
3.9
通讯作者：
S. Matsuda
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Sugimoto;S. Matsuda
采用恒电位方法对 22 Cr-10 Ni 的 22 Cr-10 Ni 颗粒进行原位钝化薄膜常数光学测量。观察α和β阶段电影前沿的差异
Mesure des constantes optiques des films de passivation, in situ, sur chaque grain de l'acier 22 Cr-10 Ni par une methode potentiostatique. On observe des differences dans l'epaisseur du film sur les frontieres entre phases α et β