Structural evaluation of GaAs1-xBix obtained by solid-phase epitaxial growth of amorphous GaAs1-xBix thin films deposited on (001) GaAs substrates

Structural evaluation of GaAs1-xBix obtained by solid-phase epitaxial growth of amorphous GaAs1-xBix thin films deposited on (001) GaAs substrates
复制标题

通过固相外延生长沉积在 (001) GaAs 衬底上的非晶 GaAs1-xBix 薄膜获得的 GaAs1-xBix 的结构评估

DOI:
10.1016/j.jcrysgro.2022.126945
复制
发表时间:
2023
影响因子:
1.8
通讯作者:
Yoriko Tominaga
Yoriko Tominaga
中科院分区:
材料科学3区
文献类型:
--
作者:
Osamu Ueda;Noriaki Ikenaga;Yukihiro Horita;Yuto Takagaki;Fumitaka Nishiyama;Mitsuki Yukimune;Fumitaro Ishikawa;Yoriko Tominaga

文献摘要

相似文献