Deformation state extraction from electron backscatter diffraction patterns via simulation-based pattern-matching
Deformation state extraction from electron backscatter diffraction patterns via simulation-based pattern-matching
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通过基于模拟的图案匹配从电子背散射衍射图案中提取变形状态
DOI：
10.1016/j.scriptamat.2020.09.004
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发表时间：
2021
影响因子：
6
通讯作者：
DeGraef, Marc
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kurniawan, Christian;Zhu, Chaoyi;DeGraef, Marc
提出了一种基于模拟的电子背散射衍射图的形变张量提取方法。将目标图案和模拟变形图案之间的最小二乘差最小化，在理想条件下，畸变张量的平均绝对误差为~ 10−8，可以推断出目标图案的变形状态。与基于互相关的方法相比，新方法对显著模式旋转具有鲁棒性。此外，对于无噪声的图案，图案中心可以同时优化，平均绝对失真张量误差为~ 10−4。
A new simulation-based pattern-matching method is developed to retrieve the deformation tensor from electron backscatter diffraction patterns. Minimizing the least-squares difference between a target pattern and simulated deformed patterns, the deformation state of the target pattern can be inferred with an average absolute error of∼ 10− 8 for the distortion tensor under ideal conditions. The new approach is robust against significant pattern rotation compared to the cross-correlation based method. Additionally, the pattern center can be simultaneously optimized with an average absolute distortion tensor error of∼ 10− 4 for noise-free patterns.
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