Measurement of the hyperfine structure and Zeeman shift in Y I by high-resolution diode-laser Spectroscopy
Measurement of the hyperfine structure and Zeeman shift in Y I by high-resolution diode-laser Spectroscopy
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利用高分辨率二极管激光光谱测量 Y I 的超精细结构和塞曼位移
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Nakada;W.G.Jin;et al.
