ミスカット基板を用いたNdFeAs(O,H)薄膜の抵抗率異方性の測定
ミスカット基板を用いたNdFeAs(O,H)薄膜の抵抗率異方性の測定
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利用误切衬底测量 NdFeAs(O,H) 薄膜电阻率各向异性
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
生田 博志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
陳 明宇;近藤 圭祐;畑野 敬史;浦田 隆広;飯田 和昌;生田 博志
