F.Vazquez: "走査型プローブ顕微鏡による半導体からのホットエレクトロンの検出" 平成6年春季 第43回応用物理学会関連連合講演会. 26p-S-11. (1996)
F.Vazquez: "走査型プローブ顕微鏡による半導体からのホットエレクトロンの検出" 平成6年春季 第43回応用物理学会関連連合講演会. 26p-S-11. (1996)
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F. Vazquez：“使用扫描探针显微镜检测半导体中的热电子”，1994 年春季第 43 届日本应用物理学会相关会议（1996 年）。
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