Strain measurement of Heteroepitaxial GeSn/Ge microstructures by nano-beam electron diffraction
Strain measurement of Heteroepitaxial GeSn/Ge microstructures by nano-beam electron diffraction
复制标题
通过纳米束电子衍射测量异质外延 GeSn/Ge 微结构的应变
DOI：
--
复制
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
O Nakatsuka and S. Zaima
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Doi;K. Saitoh;N. Tanaka;S. Ike;O Nakatsuka and S. Zaima
