Modeling the image distortion of echelle spectrographs with T&P changes
Modeling the image distortion of echelle spectrographs with T&P changes
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使用 T 模拟中阶梯光栅光谱仪的图像失真
DOI：
10.1117/12.825845
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发表时间：
2009-08
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
在高分辨率的中阶梯光谱仪中，即使温度和压力的微小变化也会影响探测器平面上的光斑图像。同时，天文应用要求CCD上像素的测量稳定性高达1/3000（典型像素尺寸为15μm）。在本文中，我们研究了热不稳定性和压力不稳定性对典型埃切尔摄谱仪射线追踪模型的影响。我们得出了这两个参数的最小稳定性，以达到精确光谱的目标。
Even slight changes of temperature and pressure in high resolution ´Echelle spectrographs affect the spot image on the detector plane. At the same time astronomical applications require a stability of the measurement of up to 1/3000 of a pixel on the CCD (with a typical pixel size being 15μm). With this paper we present a study of the effects of thermal and pressure instabilities on ray tracing models of a typical ´Echelle spectrograph. We conclude the required minimum stabilty in these two parameters to reach the goal of precision spectroscopy.
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影响因子：
4.2
作者：
K. G. Strassmeier;M. Woche;I. Ilyin;E. Popow;S. Bauer;F. Dionies;T. Fechner;Michael Weber;A. Hofmann;J. Storm;R. Materne;W. Bittner;J. Bartus;T. Granzer;C. Denker;T. Carroll;M. Kopf;I. DiVarano;E. Beckert;M. Lesser
通讯作者：
K. G. Strassmeier;M. Woche;I. Ilyin;E. Popow;S. Bauer;F. Dionies;T. Fechner;Michael Weber;A. Hofmann;J. Storm;R. Materne;W. Bittner;J. Bartus;T. Granzer;C. Denker;T. Carroll;M. Kopf;I. DiVarano;E. Beckert;M. Lesser
影响因子：
6.5
作者：
F. Grupp
通讯作者：
F. Grupp
影响因子：
6.5
作者：
U. Hopp;R. Bender;C. Goessl;W. Mitsch;H. Barwig;A. Riffeser;F. Lang;S. Wilke;C. Ries;F. Grupp;H. Relke
通讯作者：
U. Hopp;R. Bender;C. Goessl;W. Mitsch;H. Barwig;A. Riffeser;F. Lang;S. Wilke;C. Ries;F. Grupp;H. Relke
DOI：
10.1051/aas:1998231
发表时间：
1998-06
期刊：
Astronomy & Astrophysics Supplement Series
影响因子：
--
作者：
M. Pfeiffer;C. Frank;D. Baumueller;K. Fuhrmann;T. Gehren
通讯作者：
M. Pfeiffer;C. Frank;D. Baumueller;K. Fuhrmann;T. Gehren
影响因子：
6.5
作者：
C. Lovis;F. Pepe;F. Bouchy;G. Lo Curto;M. Mayor;L. Pasquini;D. Queloz;G. Rupprecht;S. Udry;S. Zucker
通讯作者：
C. Lovis;F. Pepe;F. Bouchy;G. Lo Curto;M. Mayor;L. Pasquini;D. Queloz;G. Rupprecht;S. Udry;S. Zucker