Y.Ishida et al.: "The Investigation of 4H-SiC/SiO_2 Interfaces by Optical and Electrical Measurements"Materials Science Forum. 389-393. 1013-1016 (2002)
Y.Ishida et al.: "The Investigation of 4H-SiC/SiO_2 Interfaces by Optical and Electrical Measurements"Materials Science Forum. 389-393. 1013-1016 (2002)
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Y.Ishida等：“通过光学和电学测量研究4H-SiC/SiO_2界面”材料科学论坛。
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