Precise photographic monitoring of MEG II thin-film muon stopping target position and shape
Precise photographic monitoring of MEG II thin-film muon stopping target position and shape
复制标题
MEG II 薄膜μ子停止目标位置和形状的精确摄影监测
DOI：
10.1016/j.nima.2019.162511
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
W. Molzon
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Palo;M. Hildebrandt;A. Hofer;W. Kyle;D. Lad;T. Libeiro;W. Molzon
我们描述和显示结果的摄影技术连续监测的位置，方向和形状的薄膜μ介子停止目标的MEG II实验Baldini等人。（2018年）。由于目标位于具有1.3 T磁场、显著正电子通量和有限访问的区域中，测量变得复杂。该技术实现了10 μ m垂直和30 μ m平行于膜表面的测量精度，明显优于MEG II实验的要求。
We describe and show results of a photographic technique for continuously monitoring the position, orientation, and shape of a thin-film muon stopping target for the MEG II experiment Baldini et al.(2018). The measurement is complicated by the target being located in a region with 1.3 T magnetic field, significant positron flux, and limited access. The technique achieves a measurement precision of 10 μ m normal to and 30 μ m parallel to the film surface, significantly better than required for the MEG II experiment.
使用MEG II实验液氙伽马射线探测器时间校准计数器评估时间分辨率
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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作者：
Akabayashi;Hideo;Shimpei Taguchi;Mirka Zvedelikova;松下彩華
通讯作者：
松下彩華