Hall Thruster Channel Wall Erosion Rate Measurement Method Using Multilayer Coated Chip
Hall Thruster Channel Wall Erosion Rate Measurement Method Using Multilayer Coated Chip
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采用多层涂层芯片的霍尔推进器通道壁侵蚀率测量方法
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. cho;S. Yokota;Y. Arakawa;et al.
