Surface Potential and Topography Measurements of Gallium Nitride on Sapphire by Scanning Probe Microscopy
Surface Potential and Topography Measurements of Gallium Nitride on Sapphire by Scanning Probe Microscopy
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通过扫描探针显微镜测量蓝宝石上氮化镓的表面电位和形貌
DOI：
10.1541/ieejsmas.136.96
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发表时间：
2016
影响因子：
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通讯作者：
石川 博康
中科院分区：
文献类型：
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作者：
潤間 威史;佐藤 宣夫;石川 博康
