The contribution of topology for inclusion of feedforward network and biased synaptic strength to the long-term memory effect in a cortical microcircuit
The contribution of topology for inclusion of feedforward network and biased synaptic strength to the long-term memory effect in a cortical microcircuit
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包含前馈网络和偏置突触强度的拓扑对皮质微电路中长期记忆效应的贡献
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yasuo Kuniyoshi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Katsuma Inoue;Yoshiyuki Ohmura;Shogo Yonekura;Yasuo Kuniyoshi
