impacts of Proton Radiation on Heavy-Ion-Induced Single-Event Transients in 65-nm CMOS Technology
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DOI：
10.1109/tns.2018.2867590
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Pengcheng Huang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zhenyu Wu;Shuming Chen;Jianjun Chen;Pengcheng Huang
