電流モード多値論理を用いた暗号ハードウェアの安全性に関する検討
電流モード多値論理を用いた暗号ハードウェアの安全性に関する検討
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基于电流模式多值逻辑的密码硬件安全性研究
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
馬場祐一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroki Sugano;Hiroyuki Ochi;Yukihiro Nakamura;Ryusuke Miyamoto.;馬場祐一
