The current limits of the laser-acoustic test method to characterize low-k films

The current limits of the laser-acoustic test method to characterize low-k films
复制标题

DOI:
10.1016/j.mee.2005.07.073
复制
发表时间:
2005-12
影响因子:
2.3
通讯作者:
D. Schneider;S. Frühauf;S. Schulz;T. Gessner
D. Schneider;S. Frühauf;S. Schulz;T. Gessner
中科院分区:
工程技术3区
文献类型:
--
作者:
D. Schneider;S. Frühauf;S. Schulz;T. Gessner

文献摘要

被引文献

相似文献