Subsurface Damaged Layer Reduction with Atomic Force Microscope Scratch Nano Machinig on Optical fiber End Plane

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光纤端面原子力显微镜划痕纳米加工减少次表面损伤层

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
T. Sato
T. Sato
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
S. Matsui;S. Umemura;T. Sato

文献摘要

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