Combined optical micromanipulation and interferometric topography (COMMIT).
Combined optical micromanipulation and interferometric topography (COMMIT).
复制标题
光学微操作和干涉形貌相结合（COMMIT）。
DOI：
10.1364/boe.7.001365
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发表时间：
2016
影响因子：
3.4
通讯作者：
Anvari,Bahman
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sarshar,Mohammad;Lu,Thompson;Anvari,Bahman
