H.Kobayashi, et.al.: "Finite Aperture Time and Sampling Jitter Effects in Wideband Data Acquisition Systems"Automatic RF Techniques Group56th Measurement Conference - Metrology and Test for RF Telecommunications. Boulder, Dec.. 115-121 (2000)
H.Kobayashi, et.al.: "Finite Aperture Time and Sampling Jitter Effects in Wideband Data Acquisition Systems"Automatic RF Techniques Group56th Measurement Conference - Metrology and Test for RF Telecommunications. Boulder, Dec.. 115-121 (2000)
复制标题
H.Kobayashi 等人：“宽带数据采集系统中的有限孔径时间和采样抖动效应”自动射频技术组第 56 届测量会议 - 射频电信计量和测试。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
