Nanometer Deflection Control of AFM Probe Irradiating Polarized Laser and its Application to Nano-Structuring Process
Nanometer Deflection Control of AFM Probe Irradiating Polarized Laser and its Application to Nano-Structuring Process
复制标题
AFM探针照射偏振激光的纳米偏转控制及其在纳米结构过程中的应用
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuji FURUKAWA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Daisuke MEZAKI;Ken-ichiro CHUMA;Akira KAKUTA;Yuji FURUKAWA
