XAFS Study of Bismuth Thin Film deposited at Low Temperature
XAFS Study of Bismuth Thin Film deposited at Low Temperature
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低温沉积铋薄膜的 XAFS 研究
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Miyanaga
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Ikemoto;R. Sugibayashi;and T. Miyanaga
