Quantitative Effects of Substrate Tilt, Curvature and Deposition Position on Orientation in ZnO Films
Quantitative Effects of Substrate Tilt, Curvature and Deposition Position on Orientation in ZnO Films
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基板倾斜、曲率和沉积位置对 ZnO 薄膜取向的定量影响
DOI：
10.1109/ultsym.1987.198987
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发表时间：
1987
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. Khuri
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Howell;L. Goddard;B. Khuri
