村田, 松川, 大谷, 松本, 木内: "ブリユアン光散乱法を用いたSiC薄膜の非破壊評価"電子情報通信学会技術研究報告. US2001-23. 81-87 (2001)
村田, 松川, 大谷, 松本, 木内: "ブリユアン光散乱法を用いたSiC薄膜の非破壊評価"電子情報通信学会技術研究報告. US2001-23. 81-87 (2001)
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Murata、Matsukawa、Otani、Matsumoto、Kiuchi：“利用布里渊光散射法对 SiC 薄膜进行无损评估”IEICE 技术研究报告 US2001-23（2001）。
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