A BIST Scheme Detecting Catastrophic Faults of MOSFETs in Bandgap Reference with Self-Biased Operational Amplifier
A BIST Scheme Detecting Catastrophic Faults of MOSFETs in Bandgap Reference with Self-Biased Operational Amplifier
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用自偏置运算放大器检测带隙基准中 MOSFET 灾难性故障的 BIST 方案
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masayoshi Tachibana
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takuya Bando;Masayoshi Tachibana
