In Situ Transmission X-ray Micro-Diffraction from Thin Metal Films Electrodeposited in Microfluidic Channels
In Situ Transmission X-ray Micro-Diffraction from Thin Metal Films Electrodeposited in Microfluidic Channels
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微流体通道中电沉积金属薄膜的原位透射 X 射线微衍射
DOI：
10.1149/1945-7111/aba077
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发表时间：
2020
影响因子：
3.9
通讯作者：
O. M. Magnussen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Wiegmann;J. Drnec;F. Reikowski;J. Stettner;F. Maroun;O. M. Magnussen
将透射式高能X射线表面衍射仪与微流控薄层流动池相结合，对电沉积外延薄膜的局域结构进行了原位研究。以Au(100)单晶上的Bi膜为例说明了这种方法的性能。我们证明，局部薄膜厚度、应变和沉积微晶的取向可以在几个微米的空间分辨率下绘制出来。铋薄膜的高度非均质性为沉积提供了广泛的结构特性，允许在不同参数之间建立作为局部厚度的函数的相关性。
High-energy X-ray surface diffraction in transmission geometry is combined with a microfluidic thin layer flow cell for in situ studies of the local structure of electrodeposited epitaxial films. The capabilities of this approach are illustrated using Bi films on Au (100) single crystals as an example. We demonstrate that the local film thickness, the strain, and the orientation of the deposits' crystallites can be mapped with a spatial resolution of a few micrometers. The high heterogeneity of the Bi films provides deposits with a wide range of structural properties, allowing to establish correlations between the different parameters as a function of the local thickness.
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通讯作者：
P. Allongue
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DOI：
--
发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
--
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通讯作者：
L. Sorensen
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--
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Hugh S. Isaacs
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