退火温度对新型有源层WZTO薄膜晶体管性能的影响

退火温度对新型有源层WZTO薄膜晶体管性能的影响
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DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
发光学报
影响因子:
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通讯作者:
李喜峰
李喜峰
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
杨祥;徐兵;周畅;张建华;李喜峰

文献摘要

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