Test cost reduction for logic circuits-Reduction of test data volume and test application time-
Test cost reduction for logic circuits-Reduction of test data volume and test application time-
复制标题
降低逻辑电路的测试成本-减少测试数据量和测试应用时间-
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takamatsu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Higami;S.Kajihara;H.Ichihara;Y.Takamatsu
