S.Nakamura, P.Liu, M.Suhara, T.Okumura: "Transient capacitance characterization of deep levels in undoped and Si-doped GaN"2003 MRS spring meeting proceedings. (印刷中). (2003)
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S.Nakamura、P.Liu、M.Suhara、T.Okumura：“未掺杂和硅掺杂 GaN 中深能级的瞬态电容特性”2003 年 MRS 春季会议论文集（2003 年）。
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