自己組織化単分子膜で修飾した探針及び試料間の電位制御下フォースカーブ測定
自己組織化単分子膜で修飾した探針及び試料間の電位制御下フォースカーブ測定
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自组装单层修饰探针与样品之间的电位控制力曲线测量
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
横田泰之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
横田泰之;福井賢一;横田泰之;横田泰之;横田泰之;横田泰之
