光電子分光およびNEXAFS測定によるフッ素含有自己組織化膜の電子構造評価
光電子分光およびNEXAFS測定によるフッ素含有自己組織化膜の電子構造評価
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使用光电子能谱和 NEXAFS 测量评估含氟自组装薄膜的电子结构
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松井真二
中科院分区：
文献类型：
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作者：
春山雄一;岡田真;松井真二
