O. Nishikawa et al: "Atomic Level Analysis of Electron Emitter Surfaces by the Scanning Atom Probe"Appl. Phys. A. 146. 398-407 (1999)
O. Nishikawa et al: "Atomic Level Analysis of Electron Emitter Surfaces by the Scanning Atom Probe"Appl. Phys. A. 146. 398-407 (1999)
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O. Nishikawa 等人：“通过扫描原子探针对电子发射器表面进行原子级分析”Appl。
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