Advances in Extreme-Scale 3D EM: Specimen Preparation and Recording Systems for Electron Microscopic Tomography and Serial Block Face SEM
Advances in Extreme-Scale 3D EM: Specimen Preparation and Recording Systems for Electron Microscopic Tomography and Serial Block Face SEM
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超大规模 3D EM 的进展：电子显微镜断层扫描和串行块面 SEM 的样品制备和记录系统
DOI：
10.1017/s1431927611005757
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发表时间：
2011
影响因子：
2.8
通讯作者：
N. Xuong
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Mark Ellisman;T. Deerinck;E. Bushong;J. Bouwer;T. M. Shone;Liang Jin;A. Milazzo;S. Peltier;N. Xuong
2011 年 8 月 7 日至 11 日在美国田纳西州纳什维尔举行的 2011 年显微镜和微分析会议上发表的一篇论文的扩展摘要。
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2011 in Nashville, Tennessee, USA, August 7–August 11, 2011.