Wei Gao,Satoshi Genda and Satoshi Kiyono: "In-process force monitoring in diamond turning of micro-patterns"Proceedings of of SPIE Vol.4222, In-Process Control and Inspection for Industry. 412-416 (2000)
Wei Gao,Satoshi Genda and Satoshi Kiyono: "In-process force monitoring in diamond turning of micro-patterns"Proceedings of of SPIE Vol.4222, In-Process Control and Inspection for Industry. 412-416 (2000)
复制标题
Wei Gau、Satoshi Genda 和 Satoshi Kiyono：“微图案金刚石车削过程中的力监控”SPIE 第 4222 卷《工业过程控制与检验》会议录。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
