Profilometry based on two-photon absorption in a silicon avalanche photodiode
Profilometry based on two-photon absorption in a silicon avalanche photodiode
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基于硅雪崩光电二极管中双光子吸收的轮廓测量法
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Kuorkawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Tanaka;N.Sako;T.Kuorkawa
通过使用硅 CCD 相机中的双光子吸收，生成用于飞秒激光脉冲诊断的单次超声波图。
影响因子：
3.6
作者：
D. Panasenko;Y. Fainman
通讯作者：
Y. Fainman
使用 3.5 GHz 光调制器的高分辨率测距仪
DOI：
10.1117/12.236947
发表时间：
1996
期刊：
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影响因子：
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作者：
I. Fujima;K. Seta;H. Matsumoto;Hisashi Yoshida
通讯作者：
Hisashi Yoshida