Field emission interferometry with the scanning tunneling microscope
Field emission interferometry with the scanning tunneling microscope
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使用扫描隧道显微镜进行场发射干涉测量
DOI：
10.1016/s0039-6028(99)00346-5
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
J. Sáenz
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. J. Caamano;Y. Pogorelov;O. Custance;J. Méndez;A. Baró;J. Veuillen;J. Gómez‐Rodríguez;J. Sáenz
