Development of high-resolution X-ray diffraction microscopy using Kirkpatrick and Baez mirrors
Development of high-resolution X-ray diffraction microscopy using Kirkpatrick and Baez mirrors
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使用柯克帕特里克和贝兹镜开发高分辨率 X 射线衍射显微镜
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Yamauchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R.Tsutsumi;Y.Takahashi;N.Zettsu;A.Suzuki;Y.Nishino;E.Matsubara;T.Ishikawa;K.Yamauchi
