Coherent X-ray Diffractive Imaging for Nanostructure Analysis
Coherent X-ray Diffractive Imaging for Nanostructure Analysis
复制标题
用于纳米结构分析的相干 X 射线衍射成像
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋幸生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nakasone;K.; Addiel;V. S. J.; Tagaya;M. (本申請者); Kobayashi;T.;多賀谷基博;高橋幸生;多賀谷基博;多賀谷 基博 (本研究代表者);高橋幸生;多賀谷 基博 (本研究代表者);高橋幸生;多賀谷 基博 (本研究代表者);高橋幸生
