走査トンネル顕微鏡による軌道秩序の直接観察:物質表面に現れる新たな秩序
走査トンネル顕微鏡による軌道秩序の直接観察:物質表面に現れる新たな秩序
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使用扫描隧道显微镜直接观察轨道秩序：材料表面出现的新秩序
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
吉田靖雄・Howon Kim・Chi-Cheng Lee・長谷川幸雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
伏屋雄紀，勝野弘康，Kamran Behnia;Aharon Kapitulnik;Hiroshi Tamaru;吉田靖雄・Howon Kim・Chi-Cheng Lee・長谷川幸雄
