AC-calorimetry for Detecting Electronic Phase Transitions at Low Temperatures using Micro-Chip Devices
AC-calorimetry for Detecting Electronic Phase Transitions at Low Temperatures using Micro-Chip Devices
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使用微芯片器件检测低温电子相变的交流量热法
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Nakazawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Inoue;Y. Nakazawa
