Physics of electron beam ion traps and sources
Physics of electron beam ion traps and sources
复制标题
电子束离子陷阱和源的物理学
DOI：
10.1109/tps.2005.860072
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发表时间：
2005
影响因子：
1.5
通讯作者：
Gerd Fussmann
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fred Currell;Gerd Fussmann
本文介绍了电子束离子阱和离子源的基本物理操作，与机器物理操作的基础上进行了一些详细的描述。从这种描述所产生的预测进行了比较与一些诊断测量。
This paper presents the basic physics underlying the operation of electron beam ion traps and sources, with the machine physics underlying their operation being described in some detail. Predictions arising from this description are compared with some diagnostic measurements.