Three dimensional evaluation of parallelepiped flaw using amorphous MI sensor and neural network in biaxial

Three dimensional evaluation of parallelepiped flaw using amorphous MI sensor and neural network in biaxial
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使用非晶 MI 传感器和双轴神经网络对平行六面体缺陷进行三维评估

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
安部正高
安部正高
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
安部正高;琵琶志朗;松本英治;安部正高;安部正高;安部正高

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