Carrier lifetime measurement of perovskite films by differential microwave photoconductivity decay
Carrier lifetime measurement of perovskite films by differential microwave photoconductivity decay
复制标题
通过微分微波光电导衰减测量钙钛矿薄膜的载流子寿命
DOI：
10.35848/1347-4065/ac5d22
复制
发表时间：
2022
影响因子：
1.5
通讯作者：
Wakamiya Atsushi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ohdaira Keisuke;Thi Cam Tu Huynh;Shimazaki Ai;Kaneko Ryuji;Sumai Yuka;Shahiduzzaman Md.;Taima Tetsuya;Wakamiya Atsushi
