Width Quantization Aware FinFET Circuit Design
Width Quantization Aware FinFET Circuit Design
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宽度量化感知 FinFET 电路设计
DOI：
10.1109/cicc.2006.320916
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
C. Kim
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jie Gu;J. Keane;S. Sapatnekar;C. Kim
本文提出了一种考虑独特宽度量化特性的 FinFET 器件的统计泄漏估计方法。蒙特卡罗模拟表明，传统方法低估了 FinFET 器件的平均漏电流高达 43%，而所提出的方法给出了精确估计，误差小于 5%。动态逻辑电路的设计实例表明了该方法的有效性
This paper presents a statistical leakage estimation method for FinFET devices considering the unique width quantization property. Monte Carlo simulations show that the conventional approach underestimates the average leakage current of FinFET devices by as much as 43% while the proposed approach gives a precise estimation with an error less than 5%. Design example on dynamic logic circuits shows the effectiveness of the proposed method