S-520-32号機による電離圏擾乱発生時の電子密度鉛直・水平構造観測
S-520-32号機による電離圏擾乱発生時の電子密度鉛直・水平構造観測
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使用 S-520-32 观测电离层扰动期间电子密度的垂直和水平结构
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂本陽子
中科院分区：
文献类型：
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作者：
芦原佑樹;山本衛;石坂圭吾;熊本篤志;白澤秀剛;上垣柊季;上谷仁亮;松山実由規;都筑大樹;坂本陽子
