Precise profilometry for scattered media and tomography for multiple-layers samples using the Discrete frequency scanning laser
Precise profilometry for scattered media and tomography for multiple-layers samples using the Discrete frequency scanning laser
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使用离散频率扫描激光进行散射介质的精确轮廓测量和多层样品的断层扫描
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tatsutoshi Shioda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tuan Cong Truong ;Tuan Quoc Banh ;Tatsutoshi Shioda
