半導体製造工程におけるT2-Q管理図の実践 : 変動の大きさの管理から変動パターンの管理へ”

半導体製造工程におけるT2-Q管理図の実践 : 変動の大きさの管理から変動パターンの管理へ”
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在半导体制造过程中实践 T2-Q 控制图:从管理波动幅度到管理波动模式。”

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
品質
影响因子:
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通讯作者:
東出政信,仁科健,川村大伸
東出政信,仁科健,川村大伸
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Yasunari Tsuruoka;Hironobu Kawamura;東出政信,仁科健,川村大伸

文献摘要

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