陽電子プローブマイクロアナライザーによる純鉄の水素誘起空孔分析

陽電子プローブマイクロアナライザーによる純鉄の水素誘起空孔分析
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使用正电子探针微量分析仪对纯铁进行氢诱导空位分析

DOI:
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发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
久保祐介
久保祐介
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
藤浪眞紀;久保祐介

文献摘要

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