Asada, Naoki: "Seeing Behind the Scene : Analysis of photometric properties of occluding edges by the reversed projection blurring model" IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence. Vol.20, No.2. 155-167 (1998)
Asada, Naoki: "Seeing Behind the Scene : Analysis of photometric properties of occluding edges by the reversed projection blurring model" IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence. Vol.20, No.2. 155-167 (1998)
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Asada、Naoki：“了解幕后：通过反向投影模糊模型分析遮挡边缘的光度特性”IEEE 模式分析和机器智能汇刊。
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